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부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
8V182512IDGGREP D# V36:1790_07222207 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
1941 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
8V182512IDGGREP D# 296-22075-2-ND |
Texas Instruments |
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
0 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
172 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
8V182512IDGGREP D# NS-8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
3995 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
Enhanced Product 3.3-V Abt Scan Test Devices With 18-Bit Universal Bus Transceivers |
4 |
부품 번호 | 제조업체 | 설명 | 재고 |
8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
RFQ |
1189 |
Heisener의 품질에 대한 약속은 소싱, 테스트, 선적 및 그 사이의 모든 단계에 대한 프로세스를 형성했습니다. 이 기초는 우리가 판매하는 각 구성 요소의 근간을 이루고 있습니다.
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86-755-83210559-843
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TVS DIODE 5VWM 7.7VC SOT23
CAP ALUM 100UF 20% 50V SMD
TVS DIODE 45VWM 72.7VC SMB
IC AMP INGAP LF-6GHZ SOT-89
IC SWIT PWM SMPS CM PENTAWATT5